體積電阻率表面電阻率測試儀 和 介電常數介質(zhì)損耗測試儀

體積電阻率和表面電阻率測試儀儀器工作原理

根據歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過(guò)測量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，
由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線(xiàn)性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線(xiàn)性的。
又由于測量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì )有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。
EST121型數字高阻計是同時(shí)測出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算，

然后把所得到的結果經(jīng)過(guò)A/D轉換后以數字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，

所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結果影響不大，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。

(國家標準GB/T1410-2006《固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗方法》對度的規定為低于1010Ω為±10%, 更高電阻時(shí)為±20%。)

介電常數介質(zhì)損耗測試儀 介質(zhì)損耗因數測試儀

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 
自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩定。 
計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創(chuàng )新設計，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
，測量值更為，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。 
一、介電常數介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。

標簽：電壓擊穿試驗儀，電氣強度實(shí)驗儀，介電擊穿強度實(shí)驗儀，體積電阻率外表電阻率測驗儀，介電常數介質(zhì)損耗測驗儀，耐漏電起痕實(shí)驗儀，低溫脆化沖擊實(shí)驗機，資料實(shí)驗機，抗彎強度實(shí)驗機，拉力實(shí)驗機，海綿泡沫落球回彈實(shí)驗機