介電常數介質(zhì)損耗測試儀*技術(shù)（電壓擊穿試驗儀）

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；

儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為。

儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

介電常數介質(zhì)損耗測試儀多項技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 

雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 

自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 

全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩定。 

計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 

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